座谈会现场

参观自测所新一代集成电路测试系统

11月5日，北京兆维电子（集团）有限责任公司总裁田永军、战略总监张健带领公司半导体及检测领域负责人到富联注册院北京自动测试技术研究所有限公司调研交流。富联注册院副院长刘清珺出席会议。

会上，田永军介绍了兆维集团的产业布局和未来重点发展方向，特别提出了对集成电路领域的发展规划。刘清珺介绍了自测所的历史及对国内集成电路领域所做出的贡献，自测所相关负责人介绍了双方已有的合作内容，对自测所新一代产品的性能、应用领域、及市场情况进行了重点介绍。双方实地参观了自测所有限公司开发的新一代集成电路测试系统。

兆维集团在半导体光学检测等领域成果显著，集团领导对自测所相关测试产品表现了较大兴趣，双方希望进一步加深合作，对前道和后道半导体检测领域进行深度延展，在北京市集成电路产业中发挥更大作用。

院人力资源处、自测所等相关负责人参加座谈会。

(北京自动测试技术研究所有限公司 文/摄)